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優(yōu)爾鴻信可靠性實(shí)驗(yàn)室擁有多種型號的高低溫試驗(yàn)箱,如0.5m3、1m3、2m3、12m3等不同容量,可開展高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、高低溫存儲試驗(yàn)等環(huán)境可靠性測試。
高溫可靠性測試
高溫試驗(yàn)是將試樣暴露在高溫環(huán)境中進(jìn)行的試驗(yàn),旨在考察高溫負(fù)載對試樣的影響,確定試樣在高溫負(fù)載條件下工作的適應(yīng)性。這種試驗(yàn)對于評估產(chǎn)品在長時間高溫條件下的性能和可靠性具有重要意義。
高溫試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)
高溫試驗(yàn)的主要技術(shù)指標(biāo)包括:
溫度:試驗(yàn)時的溫度值或溫度范圍。
時間:試驗(yàn)持續(xù)的時間。
溫度上升速率:試驗(yàn)溫度上升的速度。
高溫試驗(yàn)的應(yīng)用
高溫試驗(yàn)廣泛應(yīng)用于機(jī)械工程、實(shí)驗(yàn)室儀器和裝置、氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備等領(lǐng)域. 它不僅限于電子電氣產(chǎn)品,還包括汽車、航空航天、橡膠、塑料、金屬等多種材料和產(chǎn)品的測試. 通過高溫試驗(yàn),可以評估材料在高溫下的物理和化學(xué)性能(如熱膨脹系數(shù)、熱導(dǎo)率、耐熱性等)、機(jī)械性能(如強(qiáng)度、硬度和韌性)以及電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境中的工作性能和壽命.
高溫可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)
高溫試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)包括但不限于:
GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》
GB/T 2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》
GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2
GJB 150.3A-2009《裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)》
高溫試驗(yàn)對產(chǎn)品的影響
高溫環(huán)境可能導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部的填充物和密封條軟化或融化,殺菌劑粘度減少,電子電路穩(wěn)定性上升導(dǎo)致絕緣損毀,高分子材料和絕緣材料快速老化等。
高溫試驗(yàn)是一種重要的可靠性試驗(yàn)方法,對于評估產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的性能和可靠性具有重要意義。廣泛應(yīng)用于電子元器件、材料、機(jī)械設(shè)備等各類產(chǎn)品的質(zhì)量控制和壽命預(yù)測中。通過模擬高溫環(huán)境,可以評估產(chǎn)品在長時間高溫條件下的性能和可靠性,為產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供有力支持。